b） 信号源B 关闭，设置信号源A 的有用信号幅度为：比在此码速率下的最大有用灵敏度的限制值高3dB，记录为X（dBm）。
c） 将无用射频信号发生器提供的无用测试信号加到双信号汇合网络的B 端，打开干扰信号源B，使其频率比接收机额定频率高1MHz，并调节干扰信号源B 电平值，直到获得10-1或更差的误码率，
d） 以1dB 为步进值降低干扰信号，直到获得10-2或更好的误码率，记录干扰信号B 的电平，记为Y（dBm）；
e） 将干扰信号频率分别设置在原来基础上将处于距接收机额定信号±1MHz， ±2MHz， ±5MHz 和±10MHz 时进行这些测量，重复c），d），e）；
f） 在c）和d）中，将会得到8个Y 值，取最小的一个值即为阻塞。
7.3.7 接收机杂散发射
7.3.7.1 概述
接收机杂散发射是指通过接收机的机箱端口或天线端口，在离散频率上或在窄频带内存在的无用电磁发射信号。杂散发射的测量包括：
a） 接收机传导杂散发射，是指通过设备天线端口以传导方式进行测试的杂散发射测量；
b） 接收机辐射杂散发射，是指通过设备机箱端口以辐射方式进行测试的杂散发射测量。
7.3.7.2 测量方法
7.3.7.2.1 接收机传导杂散发射
图9 传导发射杂散测量（略）
按图9所示连接方式连接测试系统，测量设备选用频谱分析仪，传导杂散发射的测量频段为9KHz～ 5GHz，频谱分析仪的分辨率带宽/视频带宽设置应按表8所示进行。
表8 传导杂散发射测量分辨率带宽/视频带宽设置（略）
测试程序如下：
a） 被测设备工作于接收状态，固定衰减器以及频谱分析仪内部衰减器选择合适量值，以确保频谱分析仪工作在线性动态范围内；
b） 按照表8 所示的各个频段设置频谱分析仪的起始频率和终止频率，频谱分析仪的分辨率带宽设置和视频带宽设置要与表8 规定的内容相一致；
c） 频谱分析仪检波方式设置为正峰值检波，在各个测试频段搜索杂散信号，每一个杂散信号的功率不得超过第5.3 节规定的传导杂散发射的指标要求。
7.3.7.2.2 接收机辐射杂散发射
辐射杂散发射的测量频段为30MHz～5GHz，频谱分析仪的分辨率带宽/视频带宽设置应按表9所示进行。
表9 辐射杂散发射测量分辨率带宽/视频带宽设置（略）
测试程序如下：
a） 被测设备工作于接收状态，采用附录A所描述的测试场地和测试过程；
b） 频谱分析仪检波方式设置为正峰值检波，按照表9所示的各个频段设置频谱分析仪的起始频率和终止频率，频谱分析仪的分辨率带宽设置和视频带宽设置要与表9 规定的内容相一致；
c） 在各个测试频段搜索杂散信号，每一个杂散信号的功率不得超过第5.3 节规定的接收机辐射杂散发射的指标要求。
8 环境试验要求
8.1 常温下各技术要求检验合格的被测样机，在进行各项环境试验时，需进行初始、中间和最后三个阶段的以下各项电性能测量：
a） 发射机载波频率容限；
b） 发射机载波输出功率；
c） 接收机参考灵敏度。
8.2 被测样机在进行高温、恒定湿热和低温试验中间进行测量时，第8.1节规定的性能允许下降的限度如下：
a） 发射机载波频率容限应在7×10-6以内；
b） 发射机载波输出功率比常温实测值下降不大于3dB；
c） 接收机参考灵敏度对常温实测值的恶化不大于6dB。
注：这里常温实测值是指环境试验的初始测量值。
8.3 被测样机在进行高温、恒定湿热、低温和低温贮存试验完的最后测量，其按第8.1节规定所测电性能应符合本标准规定的电性能要求。
8.4 被测样机在进行振动、碰撞、跌落等机械试验完的最后测量，其按第8.1节规定所测电性能应符合常温下电性能要求。
8.5 被测样机在进行气候和机械试验后，各部分不应出现锈蚀现象和机械损伤。
9 环境试验条件
9.1 常规环境试验条件
被测样机常规环境试验条件要求如表10所示。
表10 表常规环境试验条件（略）
9.2 特殊选做环境试验条件
因特殊需要制造方与使用方可协商选择下列试验项目：温度冲击、碰撞、低气压、长雷、烟雾、沙尘、浸水、淋雨等试验。特殊试验条件可参考GB/T 15844.2-1995中第4.2 节、第4.3节、第4.4节、第4.5 节、第4.6 节、第4.7节和第4.8 节等执行。.
10 环境试验方法
10.1 进行试验的规则
10.1.1 常温测试条件
环境试验进行前和结束后的常温测试条件应符合GB12190-1990中的第3.3.1节、第3.3.2节和第3.3.3 节等规定。
10.1.2 试验条件容差
试验条件容差如下：
a） 温度容差：试验样品除必要的支撑点外，应完全被空气包围，试验区所测温度与包围试验样品的空气各处温度容差是：高温为±2℃．低温为±3℃；
b） 气压容差：±1 kPa（气压值等于或大于55kPa）；
c） 湿度容差：±5%；
d） 振动（正弦）振幅容差：±15%；
e） 振动频率容差：±2%（频率大于50Hz），±1Hz（频率5Hz～50Hz）；
f） 跌落高度容差：±2 cm。
10.1.3 温度变化速率
在进行温度试验时，试验箱（室）温度变化速率的平均值应在每分钟1℃以内，达到平稳、均匀变化温度要求。
10.2 试验程序
10.2.1 试验样品安装
试验样品的安装应遵循如下原则：
a） 样品在安装试验前，试验箱（室）应处于正常大气条件；
b） 为保证适当的空气循环，试验箱（室）应留有足够的空间．并将试验样品置于试验箱（室）的中间位置；
c） 在进行机械试验时（如振动），样品应按要求固定安装正确，保证不因安装不当造成样品故障或损坏。
10.2.2 初始试验
在任何一项试验开始前，应在正常大气条件下，对受试样品按规定进行一般要求、电性能测量及功能检查，并记录数据作为与试验中试验后的数据进行比较。
如果两项试验间隔时间未超过72h，则前项试验后的检验结果可作为一项试验的初始试验前的检查。
10.2.3 中间检测
在当环境试验进入持续时间2h后，方可进行试验中间测试。为保证试验中间测试结果准确性，应尽可能在试验箱（室）进行，若需要拿出箱外测试，应对受试样品增加保温、保湿的措施（如保湿套），尽量避免箱外环境影响。测试时要尽量缩短时间。
10.2.4 试验中断处理
试验中因故中断时，按如下原则处理：
10.2.4.1容差范围内的中断
若在中断期间其试验条件的改变未超过本标准中所规定的值，其中断时间仍为总试验时间的一部分。
10.2.4.2 容差范围外的中断
若在中断期间已超过了容差范围，并低于试验条件要求，则应从容差超出点给予恢复，并达到给定的试验条件后，计算试验时间。
若在中断期间超出容差范围，并高于试验条件要求，则应停止试验，选用新样品进行试验，若原样品恢复后经检验达到试验要求也可用原样品继续重新进行试验。
10.2.5 最后检验
经过试验后的样品，在给定的恢复时间后，在正常大气条件下，按第8.1节规定的电性能进行检测，其检测结果与初始、中间、最后试验检验的结果进行比较，是否符合本标准的规定，以判定样品试验后的结果。
10.2.6 检验项目
受试样品在进行环境实验时其初始和最后检验按第8.1节的规定。
受试样品在进行低温、高温和恒定湿热试验中间测量时，其电性能允许变化值应符合第8.2节的规定。按表11的要求进行跌落试验后，要求受试样品发生机械损坏而影响使用的数量不得超过2/5。
10.3 试验项目及顺序
被测样机的环境试验分为必须进行的试验项目和特殊要求协商选择的试验项目。
10.3.1 必须进行的试验项目及顺序
被测样机应进行如下项目及顺序：
低温试验→高温试验→自由跌落试验→振动试验→恒定湿热试验→抗静电干扰试验
10.3.2 特殊选做的试验项目
特殊选做试验项目要求按第9.3节规定执行。
注：抗静电干扰试验可选做。
10.4 试验方法
10.4.1 低温试验方法
低温试验方法按照GB/T 15844.2-1995中第5.1节执行。
10.4.2 高温试验方法
高温试验方法按照GB/T 15844.2-1995中第5.2节执行。
10.4.3 恒温湿热试验方法
恒温湿热试验方法按照GB/T 15844.2-1995中第5.9节执行。
10.4.4 振动（正弦）试验方法
振动（正弦）试验方法按照GB/T 15844.2-1995中第5.7节执行。
10.4.5 抗静电干扰试验方法
抗静电干扰试验方法如下：
a） 选取被测样品易受静电损伤的部位，如案件，前后盖缝隙，显示屏、电池盒等位置；
b） 用静电发生器对所选的部分，分别施加±12kV电压，分别进行空中放电五次；
c） 试验前后按本标准规定检验其电性能和功能是否符合第9.2 节和第9.3 节的要求。
10.4.6 特殊需要选择的试验项目的试验方法
特殊需要的试验项目其相应试验方法可参照GB/T 15844.2-1995中的第5.3节、第5.4节、第5.5节、第5.8节、第5.10节、第5.11节、第5.12节、第5.13节和第5.14节等执行。
附 录 A
（规范性附录）
测试场地的使用指南
A.1 测试场地
A.1.1 开阔测试场或半电波暗室
开阔测试场或半电波暗室要符合GB 9254-1988对测试场地的相应要求。
在1GHz以下频段，测试收发天线的测试距离小于3m。在1GHz以上频段，选择合适的测试距离。被测试设备大小应小于测试距离的20%。被测试设备架高要求为1.5m，测量天线架高要求在1m～4m范围内调整。为确保因测试场地附近有障碍物而产生的反射波信号对测试结果没有影响，测试场地必须满足如下条件：
a） 测试场地近处不能有直径大于测试最高频率l /4（l 为电波波长）的导电物体存在。
b） 连接电缆要尽量短。电缆要尽量沿地板表面铺设，最好铺设在地板下面，低阻抗电缆要采用屏蔽电缆。
典型的测试布置如图A.1所示。
图A.1 测试布置图（略）
A.1.2 全电波暗室
全电暗波室是一种室内有射频吸收材料的全屏蔽室，用来模拟电磁波传播的自由空间环境，它是完成设备辐射发射测量的替换场地。测量天线、被测设备和其替代用天线的测量布置同开阔测试场地相似，但它们离地板的架设高度是固定的。
关于全电波暗室屏蔽效能和墙面反射损耗的指标要求见表A.1、表A.2。要求全电波暗室内被测设备到测量天线的空间传输损耗与在自由空间环境下的传输损耗的偏差在±4 dB以内。
表A.1 全电波暗室屏蔽效能指标要求图（略）
表A.2 全电波暗室墙面反射损耗指标要求（略）
A.2 测量天线
测量天线的物理尺寸不能超过测试距离的20%。测量天线应适合于极化波的接收，应安装在水平臂的末端，应允许天线能按测量电场的水平分量或垂直分量来定位安装。当按垂直极化取向及在最低位置安装时，天线的低端应至少离地0.3m。
A.3 替代用天线
替代用天线的增益精度在±1 dB以内。
附 录 B
（规范性附录）
辐射杂散发射的通用性测量方法
本附录提供使用附录A测试场地和场地布置的数字无线对讲机的辐射杂散发射的通用测量方法。
B.1 辐射杂散测量
辐射杂散发射测量要在全电波暗室内按照如图B.1的布置进行。进行测量时，测量天线要正对被测设备的最大辐射电平方位，将测量方位记录在测试报告中，并在该方位上进行相关的测量。
图B.1 测量布置示图一（略）
辐射杂散发射测试程序如下：
a） 测试场地要满足指定测试频段的测试要求，被测设备放置在标准转台（或支架）上，除非特别要求，测量天线要垂直极化正对被测设备，天线高度与被测设备的高度相同。
b） 设置频谱分析仪为峰值检波方式。在规定的辐射杂散发射测量频段内进行扫描，搜索除免测频段以外的由被测设备产生的有效杂散发射频谱分量。若有必要，对测量天线在较小范围内进
行升降，使频谱分析仪获得有效输出频谱分量的最大功率读数。
c） 旋转被测设备，使频谱分析仪获得最大电平读数。若有必要，再次对测量天线在较小范围内进行升降，使频谱分析仪在上述最大电平读数基础上获得更大电平读数，记录有效频谱分量的
